ویفر ٹیسٹنگ پرنٹ شدہ سرکٹ بورڈ

ویفر ٹیسٹنگ پرنٹ شدہ سرکٹ بورڈز ایک اہم قسم کے الیکٹرانک اجزاء ہیں جو سیمی کنڈکٹر ویفر ٹیسٹنگ کے لیے استعمال ہوتے ہیں۔ یہ ایک خصوصی بورڈ ہے جو الیکٹرانک اجزاء کی جانچ کے لیے استعمال ہوتا ہے، جو بنیادی طور پر ویفر ٹیسٹنگ اور دیگر مواقع میں استعمال ہوتا ہے۔

ویفر ٹیسٹنگ کا سامان مختلف قسم کے سیمی کنڈکٹر ڈیوائسز کی جانچ کر سکتا ہے، جیسے انٹیگریٹڈ سرکٹس، میموری ماڈیولز وغیرہ۔ وہ مختلف ٹیسٹ بھی کر سکتے ہیں، جیسے الیکٹریکل ٹیسٹنگ، فنکشنل ٹیسٹنگ وغیرہ، اس بات کو یقینی بنانے کے لیے کہ اجزاء کی کارکردگی معیارات اور تقاضوں کو پورا کرتی ہے۔ .

ویفر ٹیسٹنگ کی اہمیت کی وجہ سے، ویفر ٹیسٹنگ پرنٹ شدہ سرکٹ بورڈز کو اکثر ایک اہم الیکٹرانک جزو سمجھا جاتا ہے۔ اس لیے، ڈیزائن اور مینوفیکچرنگ کے عمل میں، ان کے طویل مدتی مستحکم آپریشن کو یقینی بنانے کے لیے اعلیٰ درستگی اور اعلیٰ وشوسنییتا کے معیارات اور تقاضوں پر عمل پیرا ہونا ضروری ہے، اس طرح جدید الیکٹرانک صنعت کو مضبوط مدد فراہم کی جاتی ہے۔

ویفر ٹیسٹنگ پرنٹ شدہ سرکٹ بورڈ ایک قسم کا سرکٹ بورڈ ہے جو سیمی کنڈکٹر ویفر ٹیسٹنگ کے لیے استعمال ہوتا ہے، جس میں درج ذیل خصوصیات ہیں:

1. ہائی ڈینسٹی وائرنگ:ویفر ٹیسٹنگ پرنٹ شدہ سرکٹ بورڈز کو سرکٹ کے اجزاء کی ایک بڑی تعداد لے جانے کی ضرورت ہوتی ہے، اور سرکٹ کے اجزاء کے درمیان فاصلہ بہت قریب ہوتا ہے، اس لیے زیادہ کثافت والی وائرنگ کی ضرورت ہوتی ہے۔

2. تیز رفتار ٹرانسمیشن:ویفر کو تیزی سے جانچنے کے لیے بورڈ کو تیز رفتار ٹرانسمیشن کی حمایت کرنے کی ضرورت ہے۔

3. اعلی وشوسنییتا:چونکہ ویفر ٹیسٹنگ پی سی بی ویفر کو جانچنے کا کام کرتا ہے، اس لیے اس کی وشوسنییتا کے تقاضے بہت زیادہ ہیں اور کسی قسم کی خرابی کی اجازت نہیں ہے۔

ویفر ٹیسٹنگ بورڈز کی اعلی وشوسنییتا اور استحکام کی وجہ سے، وہ بنیادی طور پر سیمی کنڈکٹر پروڈکشن فیلڈ میں استعمال ہوتے ہیں اور مائکرو پروسیسرز، میموریز، اور قابل پروگرام منطق سمیت مختلف چپ مصنوعات کی جانچ کے لیے استعمال کیے جا سکتے ہیں۔ اس کا اطلاق چپ بنانے والوں کو چپس کے معیار اور کارکردگی کو بہتر طریقے سے سمجھنے اور مصنوعات کی مسابقت کو بہتر بنانے کے قابل بنا سکتا ہے۔

Sihui Fuji نے کامیابی سے 34 تہوں والا بلائنڈ ہول ویفر ٹیسٹنگ بورڈ بنایا۔ بورڈ کی کل موٹائی 4.75 ± 0.254mm کے مطابق کنٹرول کی جاتی ہے، اور بلائنڈ ہول کا قطر φ0.175mm ہے۔ لیزر سوراخ ہےφ0.10ملی میٹر۔ ہول ڈرل بٹ کے ذریعے کم از کم 0.30 ملی میٹر ہے۔ بورڈ کی موٹائی سے قطر کا تناسب 15.83:1 ہے۔ اس اعلیٰ، کثیر پرت اور پیچیدہ ویفر ٹیسٹنگ بورڈ کی تیاری میں، ہم نے بورڈ کے معیار کو یقینی بنانے کے لیے دبانے، ڈرلنگ کی درستگی، اور سوراخ تانبے کی موٹائی کی سکڑنے والی اقدار کو سختی سے کنٹرول کیا ہے۔

ویفر ٹیسٹنگ پرنٹ شدہ سرکٹ بورڈ جدید الیکٹرانک صنعت میں ناگزیر اور اہم اجزاء میں سے ایک ہیں، اور ان کا کامیاب ڈیزائن اور مینوفیکچرنگ سیمی کنڈکٹر آلات کی درستگی اور مستقل مزاجی کو یقینی بنانے کے لیے بہت اہمیت کی حامل ہے۔

تصویر: ویفر ٹیسٹنگ پرنٹ شدہ سرکٹ بورڈ

نمونہ بورڈ کی تفصیلات

آئٹم: ویفر ٹیسٹنگ پرنٹ شدہ سرکٹ بورڈ

پرت:34

مواد: 370HR

بورڈ کی موٹائی: 4.75±0.254mm

ڈاؤن لوڈ، اتارنا ٹیگ: ویفر ٹیسٹنگ پرنٹ شدہ سرکٹ بورڈ، چین ویفر ٹیسٹنگ پرنٹ شدہ سرکٹ بورڈ مینوفیکچررز، سپلائرز، فیکٹری